نتایج جستجو
پرش به ناوبری
پرش به جستجو
- ...math> با فرکانس <math>f_{r}</math>است که در طول اندازهگیری، [[تقویتکننده الکترونیکی|تقویتکننده]] فقط به بخشی از سیگنال مورد اندازهگیری پاسخ میدهد که در محدو [[رده:تجهیزات آزمایشگاهی]] ...۶ کیلوبایت (۱۸۰ واژه) - ۷ آوریل ۲۰۲۲، ساعت ۱۴:۰۶
- [[رده:تجهیزات آزمونهای الکترونیکی]] ...۵ کیلوبایت (۱۶۱ واژه) - ۶ مارس ۲۰۲۳، ساعت ۲۱:۵۴
- '''نوسانساز پل ویَن''' نوعی [[نوسانساز|نوسانساز الکترونیکی]] است که [[موج سینوسی|امواج سینوسی]] ایجاد میکند. میتواند طیف گستردهای ا [[رده:تجهیزات آزمونهای الکترونیکی]] ...۱۴ کیلوبایت (۱٬۳۵۸ واژه) - ۱۴ نوامبر ۲۰۲۲، ساعت ۱۸:۴۶
- ...ه فیزیکی است که برای اتصال [[دستگاه آزمایش ابزار الکترونیکی|تجهیزات آزمایش الکترونیکی]] به [[دستگاه در حال آزمایش|دستگاه تحت آزمایش]] (دییوتی) استفاده میشود. پ ...ساده ای هستند که با یک دست کار میکنند تا ولتاژها یا سایر پارامترهای مدار الکترونیکی بین پینهای نزدیک به هم را اندازهگیری کنند. ...۴۴ کیلوبایت (۷۰۸ واژه) - ۱۷ ژوئیهٔ ۲۰۲۴، ساعت ۲۲:۰۴
- '''آزمون کشش''' یکی از آزمونهای مخرب است که نمونه تحت نیروی کششی تک بعدی تا نقطه شکست قرار میگیرد و این در در اکثر آزمونهای کشش مواد، میتوان مشاهده کرد که در مراحل اولیهٔ آزمون ارتباط بین نیروی اعما ...۳۷ کیلوبایت (۲۴۶ واژه) - ۱۰ مهٔ ۲۰۲۴، ساعت ۲۲:۱۳
- ...اخه از مواد پیشرفته تحت عنوان سرامیکهای پیشرفته در حوزههای مختلف مانند [[آزمونهای غیر مخرب]]، بایو سرامیکها، استانداردها و دستورالعملهای طراحی و… پرداخته م ...ایجاد شده در حین تولید این مواد بهمنظور اطمینان از کارایی نیازمند هست که آزمونهای غیر مخرب([[:en:Nondestructive testing|NDT]]) میتوانند در حین کار دستگاه یا ...۸۵ کیلوبایت (۱٬۷۷۲ واژه) - ۱۲ فوریهٔ ۲۰۲۵، ساعت ۰۴:۵۶